所屬企業：中國汽車技術研究中心有限公司 發布時間：2026-01-06
一、成果簡介
本產品中汽研科技有限公司開發，集成了8項專利成果。該系統基于芯片多維故障注入、復雜干擾模擬等關鍵測試技術，能夠開展車規級芯片算法安全測試、隨機數測試、芯片安全性能測試、側信道測試、故障注入測試等檢測內容，對全場景下芯片基礎安全功能、安全驗證功能、抗攻擊能力、安全管理能力進行綜合評價。該系統能夠實現5類典型故障注入模型和8類故障疊加模型，支持汽車芯片信息安全測試用例196條，覆蓋10大芯片品類和5種汽車應用場景。
二、主要指標
（一）車規芯片典型干擾模型支持種類：支持5類芯片干擾模型：電壓毛刺、電壓抖動、脈沖干擾、電磁輻射、溫度干擾；
（二）車規芯片復雜環境干擾疊加模型支持種類：支持8類芯片復雜干擾模型疊加分析（包括：溫度與電壓毛刺、溫度與電壓抖動、電磁與電壓抖動等）；
（三）信息安全芯片測試用例數量：形成涵蓋SM4、SM2算法的側信道及故障注入分析用例196條；
（四）隨機數分析模塊顯著性水平可調范圍：測試系統可測試隨機數的顯著性水平范圍覆蓋0.02～0.05。
三、聯系方式
翟瑞卿，18322593735，zhairuiqing@catarc.ac.cn
【責任編輯：劉祉妤】